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簡要描述：高分辨近紅外波前分析儀基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術(shù)和高質(zhì)量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準直接進行測量。
產(chǎn)品型號：SID4-SWIR-HR更新時間：2025-03-12訪 問 量：801產(chǎn)品分類
Product classification產(chǎn)品簡介
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組成要素 | 固體激光器產(chǎn)品及設備 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
| 應用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
詳細介紹
SID4-Swir-HR波前傳感器
基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術(shù)和高質(zhì)量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準直接進行測量。
SID4-Swir 光學器件測量 自適應光學
特點：
由于其獨te的專li技術(shù)技術(shù)，Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：160x128測量點
2.高靈敏密度：整個光譜范圍內(nèi)相位噪聲低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可擴展到2.4μm）
4.緊湊：易于集成
應用：
透鏡測試：SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信，夜視和其他軍事和監(jiān)視設備。無色差，SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。
激光束測試：SID4 SWIR也可以短波紅外光源，像1.55μm激光器或用于激光導向系統(tǒng)的LED。
SID4-Swir產(chǎn)品參數(shù)：
波長范圍 | 0.9-1.7μm（可擴展到2.4μm） |
通光孔徑 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空間分辨率 | 60 µm |
采樣點（相位/強度） | 160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | <span background-color:#c6d9f1;"="">15nm RMS |
動態(tài)范圍 | 100μM |
采樣頻率 | 120 fps |
實時分析頻率 | 7 fps (full resolution) |
數(shù)據(jù)接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 100 x 55 x 63 mm |
重量 | 455g |
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